Показ всех — 4 результатов

Конфокальные профилометры были разработаны для измерений шероховатости как гладких, так
и очень грубых поверхностей. Конфокальное профилирование обеспечивает самое высокое
разрешение по плоскости, которое можно достичь при использовании оптического профилометра.

Пространственная выборка может быть уменьшена до 0,10 мкм, что идеально подходит для измерений малых объектов. Для измерения гладких поверхностей с уклонами более 70° (крутизна склонов грубых поверхностей до 86°) используются объективы с высокой числовой апертурой (0,95) и увеличением (150x). Собственные алгоритмы конфокальных измерений обеспечивают повторяемость по вертикали в нанометровом диапазоне.

В конфокальном сканировании система NEOX использует запатентованную технологию Sensofar, действие которой основано на микродисплее. Микродисплей выполнен на основе сегнетоэлектрических жидких кристаллов кремния (FLCoS), быстродействующем устройстве без подвижных элементов, позволяющем быстро и стабильно получать конфокальные изображения, при этом его срок эксплуатации неограничен. В существующих конфокальных микроскопах используются зеркальные сканирующие головки, подвижный механизм которых ограничивает срок их эксплуатации и увеличивает размывание пикселей при высоком увеличении

Конфокальные изображения получают при максимальном разрешении камеры для максимально детализированной информации о поверхности.

Полное 3D сканирование занимает меньше 10 сек. Для высокоскоростных измерений, и при измерении поверхностей с очень низким отражением камера работает в режиме сканирования 2х2, что позволяет получить полное 3D сканирование за менее чем 3 секунды.