Описание товара
Данный прибор предназначен для контроля и неразрушающего анализа толщины покрытия, определения примесей и элементного состава. Предварительная подготовка поверхности не требуется, что значительно облегчает работу. X-STRATA представляет собой систему, в основе которой используется рентгено-флюоресцентная технология работы. Диапазон определяемых элементов (согласно периодической системе Менделеева): №22-92 (от титана до урана). Толщина исследуемого покрытия может состоять из 5 слоев, включая основание, каждый слой будет анализироваться отдельно.
Отличительные особенности:
- возможность работы прибора в режиме «нон-стоп» (24/7);
- анализирует покрытия сложной формы (проволока, печатные платы и т.п.);
- анализирует растворы;
- результаты измерений экспортируются в виде таблицы Excel;
- функция микрофокусировки;
- толщинометр имеет прочный корпус.
