Описание товара
Прибор был разработан как высокоэффективный оптический трехмерный прифилометр. Система S NEOX превосходит все существующие оптические профилометры, объединяя в одном приборе все технологии конфокальной, интерферометрической профилометрии и технологию переменного фокуса без движущихся элементов в системе измерения.
S NEOX — сочетание лучшего из 3-х методов измерения.
ОТЛИЧИТЕЛЬНЫЕ ОСОБЕННОСТИ:
VSI
Вертикальные сканирующие интерферометры белого света разработаны для измерения шероховатости гладких или умеренно шероховатых поверхностей.
Профилирование VSI (vertical scaning interferometry) обеспечивает разрешение по вертикали в нанометровом диапазоне для любой числовой апертуры. Алгоритмы VSI позволяют системе S NEOX использовать любое увеличение для профилирования с одним и тем же разрешением по Z.
Изменение фокуса (Focus variation) – это технология, была разработана для измерения формы больших грубых поверхностей. Основана она на большом опыте в сфере как конфокальных, так и интерферометрических 3D измерений, и специально разработана для дополнения конфокальных измерений при небольшом увеличении.
Преимуществами данной технологии является измерение поверхности с высокой крутизной склонов (до 86°), высокая скорость измерения и большой диапазон по вертикали.
Данная комбинация возможностей измерения в основном используется в инструментальном производстве.
В конфокальном сканировании система NEOX использует запатентованную технологию Sensofar, действие которой основано на микродисплее.
Микродисплей выполнен на основе сегнетоэлектрических жидких кристаллов на кремнии (FLCoS), быстродействующем устройстве без подвижных элементов, позволяющем быстро и стабильно получать конфокальные изображения, при этом его срок эксплуатации неограничен. В существующих конфокальных микроскопах используются зеркальные сканирующие головки, подвижный механизм, которых ограничивает срок их эксплуатации и увеличивает размывание пикселей при высоком увеличении.
В системе S NEOX используется ПЗС-матрица высокого разрешения 1360х1024 пикселей, и дисплей высокого разрешения 2560х1440. Изображения, полученные при помощи S NEOX, не нуждаются в масштабировании, поэтому они всегда выглядят резкими, яркими и реалистичными на экране.
Техника просмотра конфокального RGB изображения позволяет пользователю рассматривать нанодетали в диапазоне нескольких микрон. LED источники красного, зеленого и синего цвета попеременно засвечивают поверхность, благодаря чему мы получаем три конфокальных изображения. При измерении мы получем информацию с изображением, кодированным по цвету в зависимости от глубины профиля, определенного путем сканирования объективом хроматического изображения поверхности. В результате это дает возможность получения псевдоцветного изображения с качественной информацией о профиле поверхности.
Полное 3D сканирование занимает менее 10 секунд. Для высокоскоростных измерений, и при измерении поверхностей с очень низким отражением камера работает в режиме сканирования 2х2, что позволяет получить полное 3D сканирование за менее чем 3 секунды.
Высококачественные объективы
В системе S NEOX используются самые лучшие объективы CF60-2 Nikon, специально разработанные для корректирования цветовых аберраций и получения резких,
точных изображений с высокой контрастностью и высоким разрешением. Линзы Френеля улучшают функциональность и рабочее расстояние, что означает, что объективы в системе S NEOX обеспечивают самый широкий диапазон рабочего расстояния для каждой числовой апертуры.
Компактное исполнение идеально подходит для быстрой и неинвазивной оценки микро- и наногеометрии технической поверхности различной конфигурации.
Вы можете выбрать от портативной системы до размера XXL
Система S NEOX обеспечивает необходимую гибкость, долговечность и продуктивность как в стандартном исполнении, которое используется для НИОКР и в лабораториях контроля качества, так и в сложных конфигурациях, ориентированных на конкретного заказчика, которые используются для контроля за процессом в режиме реального времени и для измерения образцов размером до 700х600 мм.
Демонстрация S Neox:
Технические характеристики:
| Массив измерений | 1360 x 1024 пикселей |
| LED источники света | красный (630 нм); зеленый (530 нм); синий (460 нм) и белый (550 нм) |
| Высота образца | до 40 мм (стандарт); 150 мм (регулируемый) (больше по запросу) |
| Размер образца по осям XY | до 700 х 600 мм |
| Диапазон по вертикали | 40 мм с линейным столиком; 200 мкм с Пьезо-столиком |
| Макс. диапазон сканирования по вертикали |
PSI 20 мкм; ePSI 100 мкм; VSI 10 мм; конфокальная микроскопия 37 мм; изменение фокуса 37 мм |
| Линейность столика по оси Z | <0,5 мкм/мм при линейном столике и <30 нм/100 мкм (0,03%) при Пьезо-столике |
| Разрешение столика по оси Z | 2 нм при линейном столике; 0,75 нм при Пьезо-столике |
| Воспроизводимость высоты ступеньки |
0.1% |
| Точность высоты ступеньки | 0.5% |
| Коэффициент отражения образца | от 0,05% до 100% |
| Разрешение экрана | 0,001 нм |
| Система | Напряжение сети 100-240В; частота 50/60Гц одна фаза |
| Компьютер | Последняя модель процессора INTEL; разрешение 2560 х 1440 пикселей (27 дюймов) |
| Операционная система | Microsoft Windows 7 |
| Условия эксплуатации | Температура от +10 до +35° С; Относительная влажность <80%; Высота <2000 м |
Области применения:
- дефектоскопия;
- микроэлектромеханические системы;
- микролинзы;
- призмы и пирамиды;
- ЖК дисплеи;
- корпуса;
- материалы;
- солнечные батареи.
Гарантия — 12 месяцев.
